第19期

發刊日期:2015/10/24

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實驗室認證處/林靖瑋
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認證政策訊息

電磁相容檢測實驗室設備之計量追溯要求(TAF-CNLA-J02)改版說明

本會於2015/7/21公布了「電磁相容檢測實驗室設備之計量追溯要求(TAF-CNLA-J02)」第2版,主要修改為將附表所列設備,例如電纜線、濾波器、連接器、衰減器、終端電阻等,除了透過校正來符合ISO/IEC 17025 第5.6節計量追溯要求外,也可經由被認證的測試服務對上述元件進行量測,來符合計量追溯要求。本次修訂重點如下:

  1. 將適用之設備修訂為以附表所列為限,將J02要求所適用設備儀器予以明確列表。
  2. 以量測方式來符合計量追溯政策,較能貼近測試實驗室測試時之實際需求,降低測試時的整體擴充不確定度-以EMI纜線(Cable)為例,測試標準ANSI63.4(2009)4.7.5節(Cable insertion loss),對於Cable要求定期進行對Cable作特性量測,而非以校正為限。實務上,實驗室經常需要以多條Cable相互連接以組成一量測路徑(Path),用量測方式計算各頻率點的整體路徑損失(Path loss),相較於將單一Cable作校正,僅得到該條Cable的Cable loss,由實驗室自行量測整體Path loss更能符合實驗室的需求。

為了進一步說明J02內容,下表所示為第1、2版之間的差異

J02內容 第1版 第2版
設備的適用範圍 「重要儀器設備」 附表所列設備以被動元件為主,天線、LISN、及放大器等主動元件則不適用於J02(仍需校正) 。
滿足計量追溯政策
(TAF-CNLA-R04)
的方式
對於「重要儀器設備」應符合R04的校正方案。
方式為
  1. 委由外部校正實驗室校正。
  2. 實驗室自行內部校正。
除了委由外部校正實驗室校正或自行內部校正外,實驗室得透過經認證的測試服務對於J02附表所列設備作「量測」,以作為符合ISO 17025 5.6計量追溯性要求的替代方案。

具體來說,實驗室可以自訂測試方法,或參考國際標準方法,如EIA-364-101、IEC 60512-25-2等,經過本會認證,然後對附表所列設備的路徑損失作衰減量測(Path loss measurement),這樣的「量測」也可以符合計量追溯政策。對於EMC測試實驗室而言,如果想要依據J02以「量測」來代替校正方案,本會將依照J02第3點要求來認證前述測試方法,包括:

  1. 實驗室應向本會提出增項申請。
  2. 增項申請案的認證範圍中,應包含自訂方法或依據之標準方法,並確認a.有文件化的測試程序 b.有量測不確定度評估程序及估算量測不確定度之結果c.最小量測不確定度將標示於認證範圍。

如對於TAF-CNLA-J02的內容及應用有任何意見,歡迎與本文作者林靖瑋聯絡。E-mail:jingwei@taftw.org.tw ; 電話: (03)533-6333 分機 257。

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