第14期

發刊日期:2014/07/01

認證報導
TAF Newsletter
瀏覽次數:
實驗室認證處/林宜臻
點閱次數:
研討會/訓練

「校正及允收判定實務研討會」介紹

為提升儀器使用者對計量追溯及設備校正實務之瞭解,本會於今(2014)第二季對外增設「校正及允收判定實務研討會」訓練課程,並於5月20日於台北淡水辦公室辦理第一場次的訓練課程。研討會的主要內容包括:

儀器校正的重要性、如何選擇合適的校正實驗室:

儀器的校正是確保量測品質與數據可信度的關鍵,然而,在儀器的使用過程中,有許多因素可能會影響執行試驗及校正的正確性與可靠性。包含人員、環境條件、試驗與校正方法、儀器或設備的特性…等,使得儀器設備或甚至儀器中的感測元件,在經歷長時間使用後,其量測結果產生偏差。因此,當實驗室中之量測儀器主要參數或數值會顯著影響結果時,就應對此建立校正方案。當選擇外部校正服務以滿足設備之追溯性時,需評估校正實驗室之校正能量,包含校正範圍及最小不確定度,是否符合該設備之使用範圍。此外,針對儀器校正之結果報告,應加以確認,並將儀器校正結果之器差及不確定度納入評估,方能證實儀器設備達到所需的準確度,且符合相關標準方法、規格、或規範之要求。

實驗室設備校正及管理實務應用:

本課程以天平及卡尺(包含數位式、游標式、針盤式卡尺及外徑測微器)為例,邀請本會認可校正實驗室之領域專家擔任講師,包括:

  • 瑞士商梅特勒托利多股份有限公司校正實驗室(TAF 2470) 實驗室主管 陳杰愷經理,分享天平的使用操作及環境要求、校正方法、相關國際規範(如OIML R111、OIML R76、EURAMET cg-18)、及天平校正報告判讀等實務應用知識。
  • 建大貿易股份有限公司長度校正實驗室(TAF 0495)實驗室主管邱柏清特助,講授卡尺之理論及校正報告解讀外,並特別提供卡尺(數位式、游標式、針盤式)、外徑測微器、塊規及卡尺校正器等長度量測設備,供與會學員進行實際演練,藉由校正實作過程,相信對學員在實務應用上能更有幫助。擔任課程講師

經由本次舉辦的研討會,除以實際案例講述儀器校正管理及設備允收判定相關知識外,亦涵蓋校正報告之解讀,以利學員能將校正報告之結果數據,應用在實驗室儀器之管理實務上。期望與會人員對實驗室設備之計量追溯與設備校正能有更深入的瞭解。

回認證報導列表
回上一頁